x熒光光譜儀你了解多少

X熒光光譜儀是一種較新型可以對多元素進(jìn)行快速同時(shí)測定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個(gè)物理量。X熒光光譜儀技術(shù)的主要特征為：

利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且時(shí)間短，大大提高了檢測效率和工作效率：具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；

采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性：

利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使分析儀對Si、S、AI等輕元素的具有好的分析精度；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

使用壽命的技術(shù)：

（1）、光管自動老化功能；

（2）、自動跟進(jìn)不同材質(zhì)選擇不同的光管電流；

（3）、強(qiáng)大的散熱系統(tǒng)保證光管正常的工作條件；

模塊化的功能設(shè)計(jì)理念便于應(yīng)對指令進(jìn)行、檢測元素內(nèi)容的升；*更為精巧的工藝，實(shí)現(xiàn)小體積樣品的檢測；

全光路射線防護(hù)系統(tǒng)配合三重安全防護(hù)設(shè)計(jì)，同時(shí)采用軟硬件雙重安全連鎖，保輻射安全性能。

X熒光光譜儀的步驟：

（1）選擇分析方法與制樣方法。分析方法一般有基本參數(shù)法、半基本參數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法等，制樣方法一般有拋光法、壓片法、濾紙片法和熔片法，常用粉末壓片法制樣，采用基本參數(shù)法。

（2）將制備好的樣片裝進(jìn)樣品杯，放入樣品交換器中，自動進(jìn)樣至樣品室，X射線管發(fā)出原級X射線照射樣品，激發(fā)出待測元素的熒光X射線。

（3）樣品輻射出的熒光X射線通過分光晶體，將X射線熒光光譜色散成孤立的單色分析線，由探測器測量各譜線的強(qiáng)度，根據(jù)選用的分析方法換算成元素濃度，得到樣品中待測元素含量。

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