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rohs環(huán)保檢測(cè)儀EDX1800B介紹
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產(chǎn)品描述

元素范圍從S到U 檢測(cè)限1ppm 分辨率160ev 重復(fù)性0.1 分析時(shí)間30s到200s 環(huán)境溫度15-30度 電源電壓220v 整機(jī)功率500w
天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹,天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測(cè)儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說(shuō)明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測(cè)試和分析,無(wú)需化學(xué)前處理的特性,適合工廠提供分析效率,簡(jiǎn)化測(cè)試手段。
EDX1800B性能特點(diǎn)
下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求;
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用;
平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn);
高分辨率探測(cè)器:提高分析的準(zhǔn)確性;
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率。
rohs環(huán)保檢測(cè)儀EDX1800B介紹
x熒光光譜儀xrf是天瑞儀器公司為合金測(cè)試開(kāi)發(fā)的儀器類型。
具有測(cè)試精度高、測(cè)試速度快、測(cè)試簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。
同時(shí)具有合金測(cè)試、合得獎(jiǎng)號(hào)分析、有害元素分析,土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測(cè)樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等,形態(tài)為固體、液體、粉末等。
rohs環(huán)保檢測(cè)儀EDX1800B介紹
解讀RoHS指令和WEEE指令
2003年2月13日,歐盟公布了《關(guān)于報(bào)廢電子電氣設(shè)備的指令》(2002/96/EC,簡(jiǎn)稱WEEE)和《關(guān)于電子 電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)的指令》(2002/95/EC,簡(jiǎn)稱RoHS),規(guī)定從2005年8月13日起實(shí)施WE EE的生 產(chǎn)者責(zé)任,從2006年7月1日起在相關(guān)電子電器中禁止使用六種有害物質(zhì)。有害物質(zhì)元素 Cd Pb Hg Cr6+ PBBS PBDES  Cl Cl+Br
rohs環(huán)保檢測(cè)儀EDX1800B介紹
XRF的篩選X射線熒光光譜儀是公認(rèn)的RoHS篩選檢測(cè)儀器,由于其檢測(cè)速度快、分辨率高、實(shí)施無(wú)損檢測(cè),所以被廣泛采用。熒光光譜儀繁多,以至于分不出誰(shuí)好誰(shuí)差了。在《電子信息產(chǎn)品有毒有害物質(zhì)的檢測(cè)方法》IEC62321標(biāo)準(zhǔn)文本里提到:“用能量散射X射線熒光光譜法(ED-XRF)或波長(zhǎng)散射X射線熒光光譜法(WD-XRF)對(duì)試樣中目標(biāo)物進(jìn)行測(cè)試,可以是直接測(cè)量樣品(不破壞樣品),也可以是破壞樣品使其達(dá)到”均勻材料”(機(jī)械破壞試樣)后測(cè)試?!蹦苷嬲郎?zhǔn)確無(wú)誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型,而且能限度地縮小“不確定”部分是好儀器。在保證既定準(zhǔn)確度的情況下盡可能快速檢測(cè)。尤其是企業(yè)選購(gòu),光譜儀是做日常RoHS監(jiān)督檢測(cè)用,非??粗剡@一點(diǎn)。所以,能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型,又能限度地縮小“不確定”部分,而且全部過(guò)程是在短的時(shí)間內(nèi)完成的X射線熒光光譜儀是滿足使用要求的光譜儀
ROHS檢測(cè)儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語(yǔ)知識(shí)
1.精密度
定義為同一樣品多次測(cè)定的平均值m和各次測(cè)定值mi之差。換句話說(shuō),精密度是重現(xiàn)性(Reproducibility或Repeatability)。X熒光分析 的精度是和測(cè)量的時(shí)間有關(guān)的,測(cè)量的時(shí)間越長(zhǎng),則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測(cè)同一款樣品的連續(xù)測(cè)試十一次或二十一次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測(cè)定值mi對(duì)于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,準(zhǔn)確度也一定差。反之,準(zhǔn)確度很差,精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性(Reliability)好,精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的,所以,通常情況下,把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測(cè)量的誤差。
5.檢出限(Limit of detection)
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時(shí)的元素含量,稱為檢出限(或叫檢出限)。這時(shí)候,測(cè)到的含量的置信度(可信的程度)是99.87%.測(cè)定檢出,一般要用含量比較低的樣品來(lái)測(cè)量。檢出限因所用試樣(基體)的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測(cè)量中,假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保,由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì),但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測(cè)X射線的計(jì)數(shù)值(N)的分布屬于隨機(jī)事件,其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時(shí)間越長(zhǎng),則相對(duì)偏差越小,即精度越高。
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產(chǎn)品推薦

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