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X熒光膜厚儀廠家直銷
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產品描述

膜厚儀與涂層測厚儀的差別

膜厚儀一般來說和涂層測厚儀是一類產品。

膜厚儀一般是測氧化膜層厚度,常見的鋁基,銅基氧化,測量時候用涂層測厚儀選擇N(非磁性)探頭,這樣測鋁基等氧化層也稱為膜厚儀

涂層測厚儀正常情況下有兩種測量原理,配F合N探頭,或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米,但是普通的涂層測厚儀誤差比較大,需要用高精度的涂層測厚儀測量氧化層.

兩者是只是根據材料有細微區(qū)別,不過現(xiàn)在使用者很多不了解,也相互稱呼。

天瑞儀器thick800aX射線無損傷鍍層測厚儀產品介紹

Thick800a是一款基于無損傷XRF原理的鍍層測試技術,有效分析范圍0到50微米,測試5層以內的金屬鍍層厚度。與其他測厚儀相比,x射線熒光無損傷鍍層測厚儀的精度要遠遠超出。


天瑞儀器是X射線無損傷鍍層測厚儀三大品牌之一,天瑞的thick800a滿足各種金屬層不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求,φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求,高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm,采用高度定位激光,可自動定位測試高度,定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊,鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點,高分辨率探頭使分析結果更加精準。

產品結構圖:


技術指標

1、儀器尺寸:

外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm ,

特殊測試時,可開蓋,對樣品長度無限制

檢測開槽口時,厚度10mm以上,寬度和深度沒有限制。

樣品臺尺寸:230(W)×210(D)mm

移動范圍:50(X)mm, 50(Y)mm

Z軸升降平臺升降范圍:0-140mm

2、儀器重量:90kg

3、SDD半導體探測器:

探測器輸入電壓:±12V,+5V

探頭窗口面積:25mm-2---

探頭窗口厚度:0.5mil

分辨率:140±5eV

探頭內制冷溫度:<-40℃

4、X射線光管:

管壓:5-50kV

管流:0-1mA

靶材:W靶

窗口:鈹窗

制冷方式:風冷

工作溫度:≤75℃

5、高壓發(fā)生器:

輸入電壓:24V

輸入較大電流:5A

管壓:0-50kV

管流:0-2mA

燈絲較大電壓:5V

燈絲較大電流:3.5A

6、MCA多道分析器:

輸入電壓:±12V,+5V

采樣頻率:100 KHZ

脈沖幅度:0-7.6V

A/D位數(shù):12位

分析道數(shù):2048道

7、準直器系統(tǒng):

準直器:?0.1 mm(可根據要求選配)

濾光片:Mo(可根據要求選配)

8、高清晰攝像頭:

傳感器類型:CCD(彩色)

接口:USB2.0

傳感器廠商:索尼

快門類型:面陣

光學尺寸:1/4英寸

有效像素:659(H)×494(V)

有效像素尺寸:3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸:5.6μm(H)×5.6μmm(V):

感應度:0.58V(索尼標準)

顏色排列:RGB

幀率:30fps

快門速度:1/1538-1/30(秒)

9、自動對焦系統(tǒng):

通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器

良好的射線屏蔽作用,測試口高度敏感性傳感器保護。Thick800A是基于X射線熒光無損分析原理的快速鍍層測驗,是一款上招式設計的,自帶三維移動平臺,XYZ可定點,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點。這款功能強大的儀器,配上天瑞儀器專門為其開發(fā)的鍍層測厚軟件,在鍍層檢測中可謂大展身手。

實現(xiàn)樣品測試譜圖,高清,譜線明顯。


應用領域

黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業(yè)。

產品輻射報告:


江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業(yè),注冊資本46176萬。旗下?lián)碛刑K州天瑞環(huán)境科技有限公司、北京邦鑫偉業(yè)技術開發(fā)有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技(仙桃)有限公司五家全資子公司和廈門質譜儀器儀表有限公司、江蘇國測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限。



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