X射線鍍層測厚儀Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測試,由軟件控制儀器的測試點(diǎn),以及平臺(tái)。是功能強(qiáng)大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度平臺(tái)可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
型:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維樣品平臺(tái),探測器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。 2011年1月25日,天瑞儀器在深圳創(chuàng)業(yè)板塊上市。代碼為300165。分析儀器行業(yè)的家也是目前一家上市公司,公司現(xiàn)有員工1100人,包括研發(fā)部、技術(shù)部、生產(chǎn)部、國內(nèi)業(yè)務(wù)部及海外市場部、品管部、計(jì)劃部、采購部、倉管部、人力資源部、財(cái)務(wù)部、及董秘處和行政部等部門,且公司規(guī)模日益壯大。公司擁有國際的X熒光分析技術(shù)領(lǐng)域的專家隊(duì)伍,具有雄厚的資金勢力、的技術(shù)水平、服務(wù)標(biāo)準(zhǔn)和先進(jìn)的管理模式。同時(shí),公司與國內(nèi)外相關(guān)領(lǐng)域的專業(yè)研究院所和企業(yè)保持著密切的合作關(guān)系,實(shí)時(shí)追蹤國際X熒光分析領(lǐng)域*的理論和技術(shù)。目前公司已被授予“民營科技企業(yè)”、“江蘇省高新技術(shù)企業(yè)”、“蘇州市分析儀器工程技術(shù)研究中心”、 “江蘇省昆山市企業(yè)技術(shù)中心”、“江蘇省昆山市產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)所RoHS檢測二室”等稱,營銷力的ROHS檢測儀器生產(chǎn)廠家。
公司的售后服務(wù)體系分為:售后服務(wù)片區(qū)(劃分)、客服和技術(shù)引導(dǎo)與維護(hù)。服務(wù)片區(qū)劃分已經(jīng)完全覆蓋全國主要省市,主要根據(jù)客戶的分布和公司業(yè)務(wù)區(qū)域的劃分,把大陸劃分12個(gè)工作區(qū)域, 包括:廣州、佛山、湖北片區(qū),廈門片區(qū),珠海、中山、云貴川片區(qū), 北京、天津、河南、河北片區(qū), 山東片區(qū),蘇州、安徽、上海片區(qū),惠州、汕頭、福建片區(qū),深圳、東莞片區(qū),浙江片區(qū)、山西、陜西西北片區(qū),青海片區(qū)、東北三省片區(qū)。另外,除大陸以外片區(qū)中國香港、及海外片區(qū)。公司通過電話等遠(yuǎn)程維護(hù)、、返廠維修以及對(duì)客戶使用人員的技術(shù)培訓(xùn)來實(shí)現(xiàn)技術(shù)的應(yīng)到和維護(hù)。
公司的X熒光檢測技術(shù)具有快速、、無損的特點(diǎn)。X熒光分析儀可以應(yīng)用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領(lǐng)域,如:電子電器(RoHS檢測)、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測)、玩具安全(EN71-3)、建材(水泥、玻璃、陶瓷)
五金鍍層測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化,我國出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)鍍層厚度有了明確要求。
鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。
五金鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí),測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
五金鍍層測厚儀測量值精度的影響因素
1.影響因素的有關(guān)說明
a基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表
d邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
e曲率
試件的曲率對(duì)測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f試件的變形
測頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
g表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
g磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
h附著
產(chǎn)品名稱:鍍層測厚儀
主要特點(diǎn):
1.測量數(shù)據(jù)數(shù)字化存儲(chǔ)、圖形顯示,準(zhǔn)確、直觀,測量精度高。
2.超過三十八種以上的可測量鍍層,以及所有導(dǎo)電性鍍層。絲狀線材和其它異形底材鍍層;
3.實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)顯示電位變化曲線、可識(shí)別和測量合金層或其它中間層;
4.自動(dòng)詳細(xì)分析多層鎳等類似鍍層的電位差值及厚度,評(píng)價(jià)其耐腐蝕性能;
5.首創(chuàng)的測量多層鎳無需三電極系統(tǒng),不用x-y記錄儀,儀器更可靠,使用更方便;
6.能分辨不同成份的鍍層、評(píng)價(jià)鍍層的均勻性,進(jìn)而判定鍍液的狀況、添加劑的性能;
7.監(jiān)視測量是否準(zhǔn)確、詳細(xì)分析測量數(shù)據(jù),選擇打印測量曲線和標(biāo)準(zhǔn)格式報(bào)告;
8.測量數(shù)據(jù)便于長期保存、隨時(shí)調(diào)用,可以利用其它軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)處理;
9.操作簡便、迅速,無需記憶測量種類代碼等。儀器可自行檢定;
10.軟件免費(fèi)升級(jí),測量鍍層種類不斷增加。根據(jù)用戶要求定制專用軟件,或增加特別硬件。
涂鍍層測厚儀精度的影響有哪些因素?
1.影響因素的有關(guān)說明
a基體金屬磁性質(zhì)磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c基體金屬厚度每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d邊緣效應(yīng)本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
e曲率試件的曲率對(duì)測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f試件的變形測頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
g表面粗糙度基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
g磁場周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
h附著物質(zhì)本儀器對(duì)那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
i測頭壓力測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。
j測頭的取向測頭的放置方式對(duì)測量有影響。在測量中,應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。
按照標(biāo)準(zhǔn)指導(dǎo)性技術(shù)檔GB/Z 20288-2006《電子電器產(chǎn)品中有害物質(zhì)檢測樣品拆分通用要求》中規(guī)定:表面處理層應(yīng)盡量與本體分離(鍍層),對(duì)于確定無法分離的鍍層,可對(duì)表面處理層進(jìn)行初篩(使用X射線熒光光譜儀(XRF)手段),篩選合格則不用拆分;篩選不合格,可使用非機(jī)械方法分離(如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的化學(xué)溶劑溶劑提取額)。對(duì)鍍層樣品進(jìn)行RoHS測試時(shí),先用EDX0B儀器直接進(jìn)行鍍層RoHS測試,如果合格則樣品符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)。如果鍍層不合格將進(jìn)行下步拆分測試。
鍍層測厚儀與傳統(tǒng)方法的區(qū)別:
項(xiàng)目
傳統(tǒng)化學(xué)分析方法(滴定法、ICP、AAS等方法和設(shè)備)
X熒光光譜分析方法
分析速度
分析速度比較慢,快速的測試方法也要10~30min得到測試結(jié)果
一般只需1~3min就可以得到測試結(jié)果結(jié)果
分析效果
測試結(jié)果受人為因素影響很大,測試結(jié)果重復(fù)性不高
幾乎無人為因素影響,測試精度很高,測試重復(fù)性很高
勞動(dòng)強(qiáng)度
全手工分析勞動(dòng)強(qiáng)度大
X測試過程大部分由儀器完成,人員勞動(dòng)強(qiáng)度極低。
同時(shí)分析元素?cái)?shù)
一般一次只能分析一個(gè)元素
同時(shí)可分析幾十種元素
是否與化學(xué)組份、化學(xué)態(tài)有關(guān)
受到待測元素的價(jià)態(tài)及化學(xué)組成的影響,樣品不同的價(jià)態(tài)和化學(xué)組成要采用不同的化學(xué)分析方法
純物理測量,與樣品的化學(xué)組份、化學(xué)態(tài)無關(guān)
分析測試成本
需要大量的化學(xué)品,和較復(fù)雜的處理過程,測試成本比較高
無需要制樣,不需要化學(xué)品,樣品處理過程簡單,測試成本很低
人員要求
對(duì)測試人員需要進(jìn)行長期嚴(yán)格的培訓(xùn),人員操作技術(shù)要求高
對(duì)人員技術(shù)要求很低,普通的工人經(jīng)過簡單的培訓(xùn)即可熟練操作使用
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