更準(zhǔn)確的檢測結(jié)果是天瑞人堅持不懈的追求，同時天瑞人還時刻牢記為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。全新開發(fā)研制的EDX 9000正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準(zhǔn)確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點，采用分析儀器行業(yè)先進的極速探測器技術(shù)（X-SDD）可將測試時間降低到1秒。同時EDX 9000還采用了天瑞儀器專利產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng)，可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試。新增加電動開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設(shè)計自動樣品平臺讓準(zhǔn)確檢測得到保證。

性能優(yōu)勢

快—1秒鐘出結(jié)果
采用行業(yè)先進的極速探測器技術(shù)——（X-SDD）分辨率至125eV
優(yōu)勢：探測面積大（面積達25mm2）、單位時間內(nèi)接受信息多、計數(shù)率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低
采用行業(yè)先進的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實現(xiàn)超高計數(shù)率，保證采集有效計數(shù)率可達1000Wcps
采用大功率X光管及先進的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢：激發(fā)效率更高
光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢：樣品更換無需關(guān)閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統(tǒng)
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點
多點測試
2D全自動樣品臺——可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試
超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準(zhǔn)直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進行選擇
準(zhǔn)直器小可達0.2毫米，針對超小樣品可準(zhǔn)確聚焦檢測
人性化的設(shè)計
更安全：X射線聯(lián)動安全裝置——光閘與聯(lián)動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動
更快捷：多點測試，點哪測哪
預(yù)約預(yù)熱：根據(jù)設(shè)定時間，儀器可定時開始測試
預(yù)約開機預(yù)熱功能：客戶可預(yù)約儀器開機時間，同時可以儀器預(yù)熱并自動檢測、校正儀器狀態(tài)；同時可以實現(xiàn)預(yù)約關(guān)機，
關(guān)機前可設(shè)定聲光提示

技術(shù)參數(shù)

測量元素范圍：硫（S）～鈾（U）
測量時間：1s或以上
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9
穩(wěn)定性：0.02
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
探測器：X-SDD探測器，分辨率可達125eV
準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動切換
濾光片：4種濾光片切換
樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭
環(huán)境濕度：≤70
環(huán)境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
秉承X熒光光譜儀20多年研發(fā)經(jīng)驗，天瑞元素錄井分析儀EDX5500H再次推動了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發(fā)展。將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項技術(shù)的獨到之處在于：通過巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來識別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。

高效真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測器**對巖心中的元素具有超低的檢出限，為錄井平臺提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征；更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時檢測需求；同時引入了目前先進的4096道數(shù)字多道技術(shù)，采用進口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線管，使儀器計數(shù)率更高，穩(wěn)定性更好，適用面更廣；

優(yōu)化了光路結(jié)構(gòu)、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；

獨特的抗震性設(shè)計，高保護光路設(shè)計使得該儀器通過了第三方權(quán)威機構(gòu)高低溫、高低頻電動振動及濕熱等使用認證；

在現(xiàn)場測試、在線檢測以及各類地質(zhì)勘察多元素檢測中充分發(fā)揮作用。



主機標(biāo)準(zhǔn)配置：

上照式光路系統(tǒng)直射模式 SDD探測器 數(shù)字多道處理器 美國進口高壓

進口牛津鈹窗X射線管 智能測試軟件 校正模塊內(nèi)置 封閉式定向散熱系統(tǒng)

高阻尼可動防震緩沖支腳 定制CCD高清攝像頭

整套設(shè)備包括: Ｘ?zé)晒夥治鲋鳈C、電腦、打印機、粉碎機、壓片機、真空泵



錄井行業(yè)應(yīng)用案例

l 巖心成份普查：

僅需簡單前處理，微量多種元素成分盡在掌握。



l 現(xiàn)時分析

能快速、現(xiàn)場追蹤巖心數(shù)據(jù)，圈定油氣邊界。單個樣品30多種元素測試僅需1~4分鐘；



l 現(xiàn)場分析

獨特的減震、超小的真空腔、超穩(wěn)固樣品靜態(tài)控制結(jié)構(gòu)設(shè)計使儀器可以應(yīng)對各種現(xiàn)場環(huán)境的檢測任務(wù)；



儀器性能優(yōu)勢：

儀器外形小巧，簡潔大方，可用于車載和實驗室，使用方法簡單，測試效率高；

測試時上照式光路設(shè)計加上真空測試腔有效杜絕現(xiàn)場環(huán)中粉塵對探測器的污染；

準(zhǔn)直器極大化設(shè)計使樣品受激光斑達mm2 保證測試的豐富性，提高測試度

封閉式定向風(fēng)冷散熱保證X射線管工作溫度穩(wěn)定，延長X射線管壽命；

分析樣品速度快，快可達60S，并且可同時分析40種元素；

高阻尼可動支腳防震設(shè)計加上超穩(wěn)真空控樣設(shè)計保證了每一個樣品與光管、探測器幾何關(guān)系時刻相一致，屏蔽現(xiàn)場震動所造成的影響；

大面積厚晶體SDD探測器，配上RhX光管以及良好的散熱性，有力地確保測試高效穩(wěn)定；

X射線屏蔽設(shè)計和高材料及安全聯(lián)動裝置有效保證無輻射外漏，讓測試人員安全放心使用；
ICP測試儀和XRF測試儀哪個更適合?選ICP測試儀還是XRF測試儀?這恐怕對于工作內(nèi)容主要做催化劑的原料和成品的金屬含量分析的實驗員來說，是很容易出現(xiàn)的疑問了。如果從購置價格、使用成本和方便程度、分析結(jié)果可靠性等幾個方便，到底哪種方法更勝一籌?XRF測試儀除了被用來進行材料表面的定性檢測，可用來測量元素的總含量嗎?準(zhǔn)確嗎?ICP測試儀檢測是僅僅對元素進行表面定性分析嗎?它跟XRF測試儀有什么區(qū)別?針對這些疑問，看看七嘴八舌的們?nèi)绾握f?你挺誰?XRF測試儀不但在元素定性上有ICP測試儀無可比擬的優(yōu)點，同時在定量上同樣可以和任何一種元素分析儀器相媲美(和制樣有關(guān))。所以這條上應(yīng)該是XRF測試儀和ICP測試儀都可以定量。A：XRF測試儀，樣品基本不用前處理，而用ICP測試儀，樣品需要進行化學(xué)處理為溶液。對于XRF測試儀來說，樣品的前處理有很大的技巧性。塊狀金屬，基本上磨一下測量面就可以了，非塊狀樣品如果采用壓片法那就要求你磨至一定的粒度以下，要不粒度效應(yīng)會比較嚴重。采用熔融法肯定是處理樣品的一種方式了，只不過形成的是一種固體溶液。而ICP測試儀毫無疑問必須溶成溶液。B：XRF測試儀可以迅速定性，元素定性方面無人能比，像紅外在有機官能團定性一樣迅速。定量方面，相比看來ICP測試儀定量較為簡單實在，易于操作。XRF測試儀做標(biāo)樣和樣品處理需要配套的制樣設(shè)備，包括壓片機和熔樣爐等，不易操作。但是不能下XRF測試儀不能定量的結(jié)論，相對于測純金屬、合金含量分析，我認為XRF測試儀是比ICP測試儀更合適!我們實驗室就是把XRF測試儀+ICP測試儀配合起來用，利用XRF測試儀定性優(yōu)勢配合ICP測試儀前處理及基體匹配，從而做到定量方便快捷。C：這個要看你的待測組分的含量和你的測試要求了，畢竟這兩臺儀器的各有各的優(yōu)勢和缺點。我建議買一臺EDXRF測試儀就夠了，能快速無損定性半定量。你送出去測試前做一次心里有個底，找個靠譜的通過CNAS認證的實驗室做一下，基本問題不會很大，真的要購買儀器的話這個真心沒有底。有的公司就為了測催化劑中的氯買了一臺40W美元的WDXRF測試儀。D：請果斷選擇ICP測試儀，雖然價格和使用程度上來說相對困難，但是結(jié)果可靠性比XRF測試儀高出光年倍。E：XRF測試儀定性分析還是比較方便，但是定量的結(jié)果沒有ICP測試儀好，就算有標(biāo)樣進行校正也存在誤差;但是ICP測試儀比較適合微量分析，主體成分的話容易帶入稀釋誤差。F：如果是測液體中的金屬離子含量用ICP測試儀當(dāng)然很好，但是只適用于微量元素，含量較好的測不出來，如果采用稀釋的方法也可以，但是誤差會增大，這個要看你要求的測量精度了!G：都很準(zhǔn)的啊，但看具體元素了，一般XRF測試儀主要測固體粉末，ICP測試儀測能溶的固體和液體!H：XRF測試儀是檢測物質(zhì)中各種氧化物和元素的含量，以及成分分析。ICP測試儀一般應(yīng)用于溶液中化合物離子的含量分析。多數(shù)認為XRF測試儀在表面化學(xué)分析方面很準(zhǔn)，但是必須購買對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)品，用來繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。此外，XRF測試儀的樣品需要前處理的，也必須滿足很多條件，比如表面光滑、成分均勻才能保證結(jié)果的準(zhǔn)確。比如粉碎或者融片之類的，都是為了讓成分均勻。而ICP測試儀測溶液中的PPM級的元素含量。如果保證操作得當(dāng)、曲線配置好的話，結(jié)果也會相當(dāng)準(zhǔn)。所以說沒有不好的分析方法，只有不適合的分析方法，看了這么多的觀點，您應(yīng)該知道自己在面對ICP測試儀和XRF測試儀時該選擇哪種方法了吧!

XRF測試儀產(chǎn)品特點：操作界面簡單，測量方便，快捷無損檢測，在無標(biāo)準(zhǔn)樣品時亦可準(zhǔn)確分析采用1275eV的高精度分辨率，保證數(shù)據(jù)測量的精度。進口高端DSP數(shù)字處理芯片能夠檢測鹵族元素的含量電控全自動機蓋升降軟件控制同置高清晰攝像頭，可幫助客戶判斷測量的部位電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序，散熱更好，并能有效的X光管的壽命外觀高貴，加大儀器內(nèi)部空間，儀器內(nèi)部通風(fēng)性優(yōu)，并有效屏蔽電磁干擾采用獨特位快速自動校準(zhǔn)。自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認識分析樣品的組成國際ling先的定量分析算法，包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗系數(shù)法、理論系數(shù)法、網(wǎng)絡(luò)算法等客戶可根據(jù)自已的要求進行二次開發(fā)，自行開發(fā)任意多個分析方法設(shè)置了自動安全防護開關(guān)，以確保用戶安全使用。


XRF測試儀產(chǎn)品介紹及應(yīng)用范圍：環(huán)保是世界的潮流，不斷出現(xiàn)的環(huán)境污染事件，世界各國都陸續(xù)了相關(guān)控制商品中有害元素含量的法規(guī)，而且對有害元素的限制值呈日漸降低的趨勢。面對這市場需求，秉譜儀器，無微不至的精神，采用zui新技術(shù)，特別設(shè)計了520L系列的X熒光光譜儀。應(yīng)用領(lǐng)域：金屬冶金行業(yè)微量元素的分析及金屬中微量有害元素的分析環(huán)保土壤、空氣及水等介質(zhì)中痕量重金屬的分析金屬成品制造行業(yè)樹脂膜層中微量元素的分析,貴金屬行業(yè)中微量對人體有害元素微量元素的分析,稀土行業(yè)中微量元素的分析,金屬鍍層行業(yè)金屬鍍層亞納米級厚度的分析,外貿(mào)出口行業(yè)中對人體有害元素微量的分析,玩具出口行業(yè)中八大中金屬微量元素的分析.
XRF分析儀器是利用X射線無損檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準(zhǔn)確、無損分析。主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。

性能特點

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達到國際先進水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達到0CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

應(yīng)用領(lǐng)域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）
EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準(zhǔn)確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm


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