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國(guó)產(chǎn)合金成分光譜分析儀 直讀光譜檢測(cè)儀
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產(chǎn)品描述

是否進(jìn)口 是否跨境貨源 適用范圍固體 報(bào)價(jià)方式電話報(bào)價(jià) 加工定制
如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子,當(dāng)外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級(jí)之間的能級(jí)差E時(shí),該原子將吸收這一特征波長(zhǎng)的光,外層電子由基態(tài)躍遷到相應(yīng)的激發(fā)態(tài)。原來(lái)提供能量的光經(jīng)分光后譜線中缺少了一些特征光譜線,因而產(chǎn)生原子吸收光譜。
國(guó)產(chǎn)合金成分光譜分析儀
光譜分析儀是一種用于測(cè)量發(fā)光體的輻射光譜,即發(fā)光體本身的指標(biāo)參數(shù)的儀器。廣泛應(yīng)用于科研、教學(xué)、工業(yè)等多領(lǐng)域。CNI提供、、軟件分析等產(chǎn)品。
光譜分析儀的優(yōu)點(diǎn):
1.采樣方式靈活,對(duì)于稀有和貴重金屬的檢測(cè)和分析可以節(jié)約取樣帶來(lái)的損耗。
2.測(cè)試速率高,可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集,并通過(guò)計(jì)算器實(shí)時(shí)輸出。
3.對(duì)于一些機(jī)械零件可以做到無(wú)損檢測(cè),而不破壞樣品,便于進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。
4.分析速度較快,比較適用做爐前分析或現(xiàn)場(chǎng)分析,從而達(dá)到快速檢測(cè)。
5.分析結(jié)果的準(zhǔn)確性是建立在化學(xué)分析標(biāo)樣的基礎(chǔ)上。
光譜分析儀的缺點(diǎn):
1.對(duì)于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準(zhǔn)確檢測(cè)。
2.不是原始方法,不能作為仲裁分析方法,檢測(cè)結(jié)果不能做為認(rèn)證依據(jù)。
3.受各企業(yè)產(chǎn)品相對(duì)壟斷的因素,購(gòu)買和維護(hù)成本都比較高,性價(jià)比較低。
4.需要大量代表性樣品進(jìn)行化學(xué)分析建模,對(duì)于小批量樣品檢測(cè)顯然不切實(shí)際。
5.模型需要不新,在儀器發(fā)生變化或者標(biāo)準(zhǔn)樣品發(fā)生變化時(shí),模型也要變化。
6.建模成本很高,素分析儀測(cè)試成本也就比較大了,當(dāng)然對(duì)于大量樣品檢測(cè)時(shí),測(cè)試成本會(huì)下降。
7.易受光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)等外部或內(nèi)部因素影響,經(jīng)常出現(xiàn)曲線非線性問(wèn)題,對(duì)檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確度影響較大。
國(guó)產(chǎn)合金成分光譜分析儀
電子躍遷到較高能級(jí)以后處于激發(fā)態(tài),但激發(fā)態(tài)電子是不穩(wěn)定的,大約經(jīng)過(guò)10-8秒以后,激發(fā)態(tài)電子將返回基態(tài)或其它較低能級(jí),并將電子躍遷時(shí)所吸收的能量以光的形式釋放出去,這個(gè)過(guò)程稱原子發(fā)射光譜??梢?jiàn)原子吸收光譜過(guò)程吸收輻射能量,而原子發(fā)射光譜過(guò)程則釋放輻射能量。
國(guó)產(chǎn)合金成分光譜分析儀
吸收光譜是根據(jù)待測(cè)元素的特征光譜,通過(guò)樣品蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子吸收被測(cè)元素的光譜后被減弱的強(qiáng)度計(jì)算其含量。它符合郎珀-比爾定律:A= -lg I/I o= -lgT = KCL
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產(chǎn)品推薦

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

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