膜厚儀又名膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。膜厚儀也叫X射線測厚儀，它的原理是物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

膜厚儀的使用

測定準備

（1）確保電池正負極方向正確無誤后設定。

（2）探頭的選擇和設定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定對象，在本體上進行設定。

測定方法

（1）探頭的選擇和安裝方法：確認電源處于OFF狀態(tài)，與測定對象的質地材質接觸

（2）調整：確認測定對象已經被調整。未調整時要進行調整。

（3）測定：在探頭的末端加一定的負荷，即使用[一點接觸定壓式]。抓住與測定部接近的部分，迅速在與測定面成垂直的角度按下。下述的測定，每次都要從探頭的前端測定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續(xù)測定平面時，如果采用探頭適配器，可以更加穩(wěn)定地進行測定。