式中I為透射光強度，I0為發(fā)射光強度，T為透射比，L為光通過原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。

1.光譜分析儀（輻射計）系統優(yōu)點
光譜分析儀（輻射計）系統采用世界先進的全息平場凹面衍射光柵和高性能帶電子快門控制技術的線性CCD陣列探測器組成。并采用控制雜散光技術、精密陣列探測器電子驅動技術和寬動態(tài)線性技術，整個系統達到雜散低、動態(tài)范圍寬、毫秒級的測試速度及傳統機械式光譜儀的高精度要求。
2.光譜分析儀（輻射計）系統組成

CMS光譜分析儀（輻射計）、積分球、精密交直流電源、校準定標系統及其他高精度儀器等組成。
3.光譜分析儀（輻射計）系統參考標準（LED模組、LED燈、LED燈具的光色電參數測量部分標準）：

CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84：1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
......
4.光譜分析儀（輻射計）系統測量參數：  

色品坐標（x,y）、相關色溫、光通量、光效、能效指數（EEI）、能效等級、顯色指數、顏色質量量表、色品坐標（u,v）、色品坐標（u`,v`）、主波長、色純度、峰值半寬度、色比、光輻射功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨視覺光通量、中間視覺光通量及電參數等參數。

當原子從較高能級躍遷到基態(tài)或其它較低的能級的過程中，將釋放出多余的能量，這種能量是以一定波長的電磁波的形式輻射出去的，其輻射的能量可用下式表示：（1）E2、E1分別為高能級、低能級的能量，h為普朗克（Planck）常數；v及λ分別為所發(fā)射電磁波的頻率及波長，c為光在真空中的速度。

技術性能及指標

1.   分光室設計

  帕邢-龍格結構,羅蘭圓直徑400mm

  波長范圍140 – 680nm

  像素分辨率10pm

  恒溫33℃±0.2℃

  特殊材質鑄造，保證光室形變小

  間歇式真空系統，可保證真空泵運行時間小于5

2.   凹面光柵

  刻線密度3600l/mm

  一級光譜線色散率：1.04 nm/mm

3.   檢測器

  高性能線陣CMOS

4.   分析時間

  依樣品種類而不同，一般少于40秒

5.   激發(fā)光源

  全數字等離子火花光源技術

  高能預燃技術 (HEPS)

  頻率100-1000Hz

  電流1-80A

6.   激發(fā)臺

  3mm樣品臺分析間隙

  噴射電極技術

  特殊設計的氣路系統，保證氬氣消耗

7.   尺寸和重量

  高450mm 長900mm 寬600 mm

  120 kg

8.   功率

  功率0W

  待機功率70W
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