XRF分析儀是檢測ROHS鹵素鍍層厚度含量的儀器，采用新型的半導體SDD探測器，極大的提高計數(shù)率，縮減了測試時間。作為國內的XRF分析儀器制造廠商，天瑞儀器秉承精益求精的研發(fā)理念，利用現(xiàn)代半導體技術和計算機技術發(fā)展起來的新一代XRF測試儀EDX0B，能夠的解決ROHS環(huán)保指令涉及的有害物質的快速測定。分析檢出限可達1ppm；分析含量一般為1ppm到99.99；任意多個可選擇的分析和識別模型；相互的基體效應校正模型；多變量非線性回歸程序；溫度適應范圍為15℃至30℃；電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源；能量分辨率：160±5eV；外觀尺寸： 550×416×333mm；樣品腔尺寸：460×298×98mm；重量：45Kg。儀器標準配置包括：樣品平臺；電制冷Si-PIN探測器；檢測電子電路；高低壓電源；大功率X光管；計算機及噴墨打印機。

RoHS檢測分析（五金工具、塑料顆粒、涂料、塑膠模具、皮革布料、電線電纜、保溫杯等）
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層（鍍錫、鍍鋅、鍍鎳、鍍銅、鍍銀、鍍銠、鍍鈀等）的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
主要用于RoHS指令相關行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀
行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)

技術特點：
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點高分辨率探測器：提高分析的準確性新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達100W的功率實現(xiàn)更高的測試效率

昆山環(huán)保測試儀EDX0B是經濟有效的檢測設備，它自身靈敏、的特征決定了適合生產過程的之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、、硒等）、包裝物料的有元素測試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測試結果度極高。X熒光光譜儀的檢測結果可以和化學檢測媲美，還大大節(jié)省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前天瑞X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導綠色生產過程中必不可少的檢測工具。更準確的檢測結果是天瑞人堅持不懈的追求，同時天瑞人還時刻牢記為客戶提供更的服務。全新開發(fā)研制的EDX 3000D正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準確、快速、無損、直觀及環(huán)保特點，同時EDX 3000D還采用了天瑞儀器專利產品的信噪比增強器進一步提升了檢測結果的準確性。
性能特點
半導體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷
自動濾光片選擇
多種準直器自動切換
三重安全保護模式
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
樣品腔自動開關
軟件定位樣品平臺，小位移 0.01 mm
自動切換準直器和濾光片，分別針對不同樣品
特別開發(fā)測量軟件，操作界面十分友好
內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時檢測樣品
高貴時尚的外型，帶給您全新的視覺沖擊
的自動平臺，更方便地調節(jié)樣品位置
采用天瑞儀器專利產品--信噪比增強器 SNE，大幅提高光譜儀測量的確定性和度
配合自動平臺全新開發(fā)的樣品定位系統(tǒng)，實現(xiàn)“點”哪測哪
鼠標輕點樣品視圖中需要檢測部位，EDX 3000D 將樣品至位置，完成檢測。
產品指標

測試元素范圍：S-U中的元素；

探測器類型：Si-PIN電制冷 

探測器分辨率：145eV

高壓范圍：0-50kV，50W

X光管參數(shù)：0-50kV，50W側窗類；

光管材：Mo；

濾光片：4種復合濾光片自動切換；

微范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

開蓋方式：隨意自動停

測試樣品種類：液體、固體和粉末

測量范圍：1ppm—99.99

測量用時：120-400秒

測試環(huán)境：非真空測試

RoHS檢出限Pb≤5ppm，Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm，

準直器：1mm 2mm 4mm

環(huán)保測試儀的技術優(yōu)點:
1、分析速度高 測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
3、非破壞分析在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好。
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質屬同一族的元素能進行分析。

環(huán)保測試儀應用背景：
 RoHS是由歐盟立法制定的一項強制性標準，它的全稱是《關于限制在電子電器設備中使用某些有害成分的指令》（Restriction of Hazardous Substances）。該標準已于2006年7月1日開始正式實施，主要用于規(guī)范電子電氣產品的材料及工藝標準，使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護。該標準的目的在于消除電機電子產品中的鉛、、鎘、六價鉻、多溴和多溴醚共6項物質，并重點規(guī)定了鉛的含量不能超過0.1。新指令2011/65/EU（RoHS 2.0）以取代2002/95/EC（RoHS） 新指令將于2011年7月21日生效。就RoHS2.0與RoHS進行比較，其主要更改如下：
     1.將原先WEEE指令的附錄I和IA新增為RoHS的兩個附錄。
     2.自2014年1月1日到2019年1月1日，逐步將設備和設備納入RoHS的管制范圍。 
     3.制造商需在產品上市銷售之前制訂EC符合性聲明并加貼CE標志，且在電子電氣產品上市之后，必須保留相關技術文件和EC符合性聲明至少十年。
     4.如果附錄III中列舉的物質（如HBCDD、DEHP、BBP和DBP等）因使用對人體健康或環(huán)境造成無法承受的危害，則將依據(jù)REACH法規(guī)第69至72條的規(guī)定進行評估，進一步將此物質列入附錄IV的限用物質。
ROHS環(huán)保測試儀的性能描述：
半導體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷
自動濾光片選擇
多種準直器自動切換
三重安全保護模式
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
樣品腔自動開關
軟件定位樣品平臺，小位移 0.01 mm
自動切換準直器和濾光片，分別針對不同樣品
特別開發(fā)測量軟件，操作界面十分友好
內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時檢測樣品
高貴時尚的外型，帶給您全新的視覺沖擊
的自動平臺，更方便地調節(jié)樣品位置
采用天瑞儀器專利產品--信噪比增強器 SNE，大幅提高光譜儀測量的確定性和度
配合自動平臺全新開發(fā)的樣品定位系統(tǒng)，實現(xiàn)“點”哪測哪
鼠標輕點樣品視圖中需要檢測部位，EDX0B 將樣品至位置，完成檢測。

ROHS環(huán)保測試儀器的應用領域：
1、海關、質檢局，第三方測試機構等測試機構QA檢驗。
2、計算機、電話機、相機、手機等電子制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗。
3、玩具、游戲機、文體設備等制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗。
4、禮品、飾品、小五金等制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗。
5、家具，油漆、涂裝等制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗。
6、紡織品、皮革、食品等制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗
7、冰箱、洗衣機、微波爐、空調等大型家用電器制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗。
8、吸塵器、熨斗、干燥機、鐘表等小型家用電器制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗。
9、收音機、電視機、樂器等視聽制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗。
10、機床、加工設備、電動工具等制造業(yè)QC，IQC、IPQC、QA檢驗。

環(huán)保測試儀產品介紹
隨著歐盟ROHS環(huán)保指令的深入影響和環(huán)保發(fā)展趨勢越來越嚴格，X射線熒光環(huán)保測試儀在電子電器行業(yè)得到廣泛使用。天瑞儀器是生產環(huán)保測試儀的廠商，公司的EDX0B是利用新一代X光管和高分辨率探測器，提供激發(fā)效率和測試精度。

環(huán)保測試儀技術指標：
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

環(huán)保測試儀的工作原理
利用X射線熒光光譜儀，使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=kE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；k為不同類型能量探測器的響應參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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